芯片高低温测试流程
作者：
salmon范
编辑：
星空天美麻花视频大全仪器
来源：
www.riukai.com
发布日期： 2020.10.14
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;芯片在出厂前需要进行环境测试，模拟芯片在气候环境下操作及储存的适应性，已确保其在低温环境下也可正常工作。下面星空天美麻花视频大全仪器小编给大家讲解一下芯片高低温测试的流程吧！
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;1、在样品断电的状态下，先将温度下降到-50℃，保持4个小时；请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20℃以上温度，所以在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其“冻透”，再次通电进行测试。
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;2、开机，对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;4、升温到+90℃，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后执行2、3、4测试步骤。
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;5、高温和低温测试分别重复10次。
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态，则视为测试失败。
客服微信
